ISSN   1004-0595

CN  62-1224/O4

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飞行时间二次离子质谱在摩擦学领域中的应用

Applications of Time-of-flight Secondary Ion Mass Spectroscopy in the Tribological Studies

    摘要
  • 摘要: 介绍了二次离子质谱(SIMS)的结构、基本原理、分析特点,特别是飞行时间二次离子质谱在摩擦学研究领域,如对涂层及摩擦反应膜、润滑油添加剂的吸附与反应、硬磁盘/磁头摩擦界面中的应用与进展,指出了飞行时间二次离子质谱分析中存在的问题,希望为摩擦学领域学者在表面分析方面提供一些新的启示.

     

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